Расчет многослойных просветляющих и отражающих покрытий

Автор работы: Пользователь скрыл имя, 16 Июня 2013 в 19:31, контрольная работа

Краткое описание

Для заданной марки оптического материала произвести расчёт однослойного, двухслойного, трёхслойного и многослойного просветляющего покрытия с минимальным коэффициентом отражения для данной длины волны λ0.
Подобрать оптические толщины и материалы напыляемых покрытий, а также методы их нанесения.
Варьируя оптической толщиной плёнки в заданном интервале длин волн, построить спектральные зависимости коэффициента отражения R=f(β), R=f(λ). Для оптимальной конструкции покрытия составить технологическую карту его нанесения.

Вложенные файлы: 1 файл

Мой Курсач.doc

— 648.50 Кб (Скачать файл)

 

 

таблица 2.6

λ, нм

400

450

500

550

600

650

700

750

800

640

β

3,751

2,234

1,676

1,34

1,117

0,957

0,838

0,745

0,67

1,57

cos2β

0,914

-0,242

-0,978

-0,896

-0,616

-0,337

-0,105

0,081

0,228

-1

r4,6

0,108

0,154

0,183

0,18

0,169

0,158

0,149

0,141

0,135

0,184

r3,6

-0,046

-0,181

-0,315

-0,299

-0,245

-0,196

-0,16

-0,133

-0,114

-0,32

r2,6

0,103

0,187

0,434

0,397

0,289

0,209

0,161

0,134

0,119

0,404

r1,6

-0,223

-0,36

-0, 655

-0, 606

-0,471

-0,382

-0,335

-0,31

-0,295

-0,669

R1,6

0,054

0,129

0,429

0,368

0,222

0,146

0,112

0,096

0,081

0,447

T1,6

0,946

0,871

0,571

0,632

0,778

0,854

0,888

0,904

0,913

0,553


 

 

  •  

  •  

  •  

  •  

  • 2.4. Анализ результатов расчетов
  •  

     

    Для выбора оптимальной  конструкции отражающего покрытия построим графики спектральных зависимостей R= f(λ) для всех типов покрытий в единой системе координат.

     

    Оптимальной будет та конструкция, которая обеспечивает максимальный коэффициент отражения на рабочей длине  волны λ0=640нм и более широкую зону отражения в заданной области спектра.

    Таким образом,  оптимальным  является 4-х слойное оптическое покрытие.

    Обозначим выбранную конструкцию отражающего покрытия:

     

      –ВД Отраж.  (41 ИЭ 90ИЭ  ) 300×2

    λ0 = 640 нм ±20 нм;

    ρmах = 0,447;

    λ1 – λ2 = 300 – 1500 нм.

    Материал подложки: БФ6-1 ГОСТ 3514-94;

        nс=1.5724

     

    Для данной конструкции отражающего покрытия составим  технологический процесс.

     

    Технологический процесс

    Технологический процесс включает  следующие основные операции :

    010  Очистка подложек.

    020  Подготовка вакуумной камеры.

    030  Ионная очистка подложек.
    040  Нагрев подложек до фиксированной  температуры.

    050  Нанесение оптических  покрытий:

    051  Нанесение  оптического  покрытия SiO2.

    052  Нанесение  оптического  покрытия НfO2.

    053  Нанесение оптического покрытия SiO2 .

    054  Нанесение оптического  покрытия НfO2.

    060  Разгерметизация  вакуумной камеры , выгрузка готовых  изделий.

    070  Контроль оптических  параметров  покрытия.

     

    Содержание операций :

     

    010 – Очистка подложек: подложки из стекла  БФ-6 ГОСТ 3514 – 94 обезжиривают в смеси  петролейного эфира и этилового спирта в соотношении 75% - 25% и окончательно протирают тампонами обезжиренной ваты, смоченной в абсолютном этиловом спирте. Очищенные детали протирают обезжиренными батистовыми салфетками. Готовые детали вставляют в съёмные оправы подложкодержателя и с поверхностей беличьей кисточкой удаляются ворсинки. Очищенные детали в оправах  загружают в подложкодержатель, и подложкодержатель  устанавливается в вакуумную камеру. При выполнении этой операции оператор должен работать в резиновых перчатках или напальчниках.

     

    020 – Подготовка вакуумной камеры происходит параллельно с операцией 010:

     

      • Очистка элементов подколпачной аппаратуры (экранов, испарителей, заслонов) от пленок  испаряемых материалов и пропитку их спиртом. 
      • Загрузка исходных пленкообразующих материалов в испарители  (НfO2, и SiO2 в 4х  позиционный тигель электронно-лучевого испарителя).
      • Загрузка подложкодержателя с очищенными оптическими деталями.
      • Проверка  работоспособности механизмов и устройств в вакуумной камере: вращение подложкодержателя, перемещение заслонок, работа фотометра.
      • Откачка камеры до давления  примерно 2 Па.

     

    030 – Операция ионной очистки подложек проводится в камере       (р=2…1.38 Па) в течение 5-10 минут при напряжении 500 В на электроде ионной очистки и токе разряда 150 – 200 мА. При этом включается вращение подложкодержателя с частотой  n = 10-20 мин –1 . В процессе ионной очистки ионами остаточных газов с поверхности удаляются пылинки и молекулы тяжелых газов.  По окончании ионной очистки камера откачивается до Р = 10 -2 – 10 -3 Па.

     

    040 – Нагрев  подложек до фиксированной температуры Тподл =3000С, происходит в высоком вакууме при одновременном вращении подложкодержателя. При этом с поверхности оптических деталей удаляются пары воды и молекулы легких газов. Время нагрева 5 - 15 минут.

            

    050 -  Нанесение оптического покрытия начинают после обезгаживания пленкообразующих материалов при закрытой заслонке.  Для этого материал нагревают до температуры на 100 0С ниже, чем  Тисп . В процессе прогрева давление вакуумной камеры повышается, а потом понижается до Р = 10-3 Па. Обезгаживание считается законченным, когда давление восстанавливается до первоначального значения. Далее включают фотометр, выводят нагреватель или ЭЛИ на режим испарения, открывают заслонку и проводят испарение материала, фиксируя параметры испарителя или ЭП. Контроль за нанесением  испарителя ведут по фотометру.  При нанесении просветляющих покрытий метод контроля на пропускание раздельный, так как   m ≥3, и экстримальный.

     

     

     051 – Нанесение оптического покрытия SiO2.

                    Режимы нанесения пленки:

    ИЭ   Р =10 -3 Па;

    Тисп.= 277° С;

    Тпод =300° С

    U = 6кВ;

    Iн = 10-12 А;

    Iэм = 20-60 мА.

                                               

    052 – Нанесение оптического покрытия HfO2. .

    Режимы нанесения пленки:

    ИЭ    Р=10-3 Па;

    Тисп    = 1730° С;

    Тпод =300° С;

    U= 6кВ;   

    Iн = 10-12 А;

    Iэм = 20-60 мА.

     

    053 – Нанесение оптического покрытия SiO2.

                    Режимы нанесения пленки:

    ИЭ   Р =10 -3 Па;

    Тисп.= 277 ° С;

    Тпод =300° С

    U = 6кВ;

    Iн = 10-12 А;

    Iэм = 20-60 мА.

    054 – Нанесение оптического покрытия HfO2. .

    Режимы нанесения пленки:

    ИЭ    Р=10-3 Па;

    Тисп    = 1730° С;

    Тпод =300° С;

    U= 6кВ;   

    Iн = 10-12 А;

    Iэм = 20-60 мА.

     

    060 – Разгерметизация  вакуумной камеры: после окончания процесса нанесения выключается вращение подложкодержателя. При снижении Тподл до 50ºС камера отсекается высоковакуумным затвором от высоковакуумной системы откачки, производится напуск воздуха, открывается вакуумная камера и производится выгрузка оптических деталей в специальную кассету.

          

    070 – Контроль. В связи с проведением группового технологического процесса нанесения покрытий на контроль попадают от 2 до 3 штук  из партии, проверяют параметры rl=f(l), tl=f(l) на фотометре СФ-8 или СФ-4  и сравнивают полученные  характеристики с расчетными. Определяют группу механической прочности на установке СД-500.       

     

     

     

     

    Список использованной литературы

     

     

    1. Конспект лекций по дисциплине ''Оптические покрытия''.
    2. Справочник технолога-оптика/  М.А.Окатов, Э.А. Антонов, А. Байгоджин и др.; под редакцией М.А. Окатова. – 2-е издание, переработанное и дополненное – СПб.: Политехника, 2004-679с.



    Информация о работе Расчет многослойных просветляющих и отражающих покрытий