Диагностика принтера

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

3 Схемы и алгоритмы диагностирования изделия

 

Выделяют два общих метода поиска отказа:

 

1) метод последовательного поиска  заключается в испытании элемента  в порядке их расположения в приведенной схеме системы (от первого элемента к последнему или от последнего к первому). При этом выбор места последующего испытания не зависит от результатов предыдущих испытаний.

 

 

Рисунок 11 – Схема последовательного поиска

 

Сначала испытание проводится в  первой контрольной точке КТ1, если отказ не обнаружен, то проводится испытание во второй контрольной точке КТ2 и так пока не будет обнаружен отказавший элемент.

 

2) метод половинного деления,  при котором точки проведения  испытаний выбираются таким образом,  что каждое испытание делит  систему на две части, только в одной из которых может находиться отказавший элемент. При этом методе выбор места каждого последующего испытания зависит от результатов предыдущих испытаний.

Схема поиска отказавшего элемента методом половинного деления  представлена на рисунке12. При этом методе первое испытание (измерение сигнала) производят примерно в средней контрольной точке КТ3 системы. Далее в зависимости от результата поиска делят пополам ту часть системы, в которой предполагается наличие неисправного узла КТ2. И так далее до обнаружения неисправного узла (элемента).

Зная надежность элементов системы (вероятность их отказа) можно ускорить поиск неисправного элемента, проверяя в первую очередь те элементы, которые имеют минимальную надежность.

 

 

Рисунок 12 – Схема метода половинного деления

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Рисунок 13 – Алгоритм диагностирования методом последовательного поиска

 

 

 

 

 

 

 

 

  

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Рисунок 14 - Алгоритм диагностирования методом половинного деления

 

 

 

 

 

 

4 Приборы необходимые  для измерений в процессе диагностирования

 

4.1 Описание прибора

 

Универсальный радиотестер  STABILOCK 4032 разработан для комплексного решения задач диагностики и тестирования аналоговых и цифровых систем и оборудования радиосвязи.

STABILOCK 4032 заменяет более 24 отдельных приборов, таких как:

-  генератор ВЧ и НЧ сигналов;

-  тестовый приемник;

-  анализатор спектра и цифровой осциллограф;

-  счетчик радио- и звуковой частоты;

-  измеритель ВЧ мощности и мощности звуковой частоты;

-  измеритель модуляции, девиации, С/Ш, SINAD, КСВН и относительного уровня сигнала;

-  кодер/декодер вызывных последовательностей служебных сигналов;

-  среднеквадратичный вольтметр и вольтметр постоянного тока и т. д.

Программное обеспечение позволяет  наряду со стандартными тестировать  специфические параметры цифровых и аналоговых систем радиосвязи.

Открытая архитектура аппаратного  и программного обеспечения STABILOCK 4032 позволяет пользователю самому подбирать необходимую конфигурацию и в любое время наращивать возможности прибора - это гарантирует, что Ваш измерительный комплекс никогда не устареет и инвестиции в STABILOCK 4032 не станут потерянными деньгами.

Встроенный язык программирования AUTORUN позволяет пользователю самому создавать любые процедуры измерений  и использовать STABILOCK 4032 для продолжительного тестирования без участия человека. Поставляемый дополнительно пакет программ для персонального компьютера ARE (AUTORUN Editor) облегчает написание программ на языке AUTORUN и позволяет управлять прибором дистанционно через шину IEEE-488, что особенно важно при создании полностью автоматических тестирующих или мониторинговых систем.

 

4.2 Область применения

 

Модульная конструкция и программное  обеспечение позволяет измерять параметры более 40 различных типов  сетей подвижной радиосвязи практически всех существующих стандартов (сотовых: GSM 900/1800, DECT, NMT, A/DAMPS и CDMA; транкинговых: TETRA, МРТ 1327, LTR; пейджинговых POCSAG и мн.др.).

 

 

 

4.3 Методы диагностирования

 

Гибкость и универсальность  радиотестера STABILOCK 4032,     возможность ремонта обычных цифровых плат, процессоров, плат электроприводов достигается за счет использования различных методов диагностирования электронных устройств, что реализует базовое программное обеспечение.

Основным методом, применяемым  как для диагностирования электронных устройств, так и локализации неисправности, является функциональное тестирование.

При функциональном тестировании контактирование  с проверяемым блоком как правило  осуществляется через краевой разъем и система диагностирования проверяет работоспособность устройства, эмулируя его работу в составе действующего оборудования.

Метод реализуется при помощи программы "Диагностический тест" и программ тестирования модулей памяти "Тест ОЗУ" и "Тест ПЗУ". Алгоритм тестирования, задаваемый этими программами, позволяет диагностировать электронные устройства на режимах близких или даже более жестких, чем работа в составе действующего оборудования.

Программа "Диагностический тест" - наиболее мощное средство диагностирования электронных устройств Алгоритм тестирования задаётся в тестовом файле, что даёт возможность производить диагностирование практически любой электронной платы. Программа позволяет создавать в одном тестовом файле до 5 тестов, за счет чего тестирование платы можно проводить в различных режимах или осуществлять последовательные проверки логических узлов электронных плат. Использование циклического режима тестирования предоставляет возможность определения "плавающих" дефектов и неисправностей, связанных с прогревом устройства.

Локализация неисправности выполняется в режиме "Наладка" при помощи логического зонда.

Методика создания тестового файла  позволяет в виде понятном любому специалисту описать параметры  электронной платы и задать алгоритм ее тестирования в виде временных  диаграмм. Для этого используется специальный графический редактор или заполняется заданный программой шаблон. 

Программа "ТЕСТ ОЗУ" - осуществляет диагностику различных типов оперативных запоминающих устройств. Модуль ОЗУ проверяется при помощи тестов шины адреса, бегущая строка, бегущая "1" и "0", бегущая диагональ. Для статических ОЗУ с подпиткой имеется возможность сохранить содержимое ОЗУ в файле, записать данные из файла в ОЗУ, проверить ОЗУ на сохранность информации.

Программа "ТЕСТ ПЗУ" - предоставляет полный набор средств для ремонта плат, содержащих микросхемы ПЗУ. Это - сравнение данных ПЗУ с эталоном и поиск неисправной микросхемы памяти, запись содержимого микросхем ПЗУ в файл, просмотр, редактирование данных ПЗУ, формирование из общего массива данных файл для записи в микросхему ПЗУ, программирование микросхем ПЗУ. Программа поддерживает ряд алгоритмов для программирования микросхем PROM и EPROM.

Метод цифрового сигнатурного анализа  реализует программа "Сигнатурный  тест". Программа применяется в основном для тестирования несложных цифровых плат с однородной структурой, хотя иногда бывает эффективна даже для ремонта микропроцессорных устройств. При использовании этого метода тестовая программа многократно прогоняется по кольцу, определяя сигнатуры на выходных разъемах тестируемой платы и сравнивая их с эталоном. Если находится несоответствие, дальнейшая локализация происходит с помощью зонда, путем снятия сигнатур с контрольных точек платы.

При использовании сигнатурного теста  даже неопытный пользователь может достаточно быстро составить тестовый файл для различных типов цифровых устройств. Однако данный метод имеет ряд недостатков, которые ограничивают его использование.

Диагностика электронных плат в  статическом и псевдодинамическом режимах выполняется посредством программы "Тест контактов".

Программа позволяет устанавливать  логические сигналы (“0” или “1”) и подавать циклическую последовательность сигналов на входные контакты проверяемой  платы, считывать информацию с выходных контактов платы однократно и  циклически. С помощью  логического зонда чтение  логических сигналов можно производить в любой точке электронной платы. 

Используя режим подачи циклической  последовательности импульсов с  ЗОНДа - генератора и синхронное чтение с помощью логического ЗОНДа, программа реализует метод цифрового внутрисхемного тестирования.

Метод цифрового внутрисхемного тестирования позволяет не выпаивая цифровые микросхемы из платы проверить их на правильность функционирования.. Для исключения влияния параллельных цепей на контакты тестируемой микросхемы подаются мощные импульсы, способные установить заданный уровень логического сигнала независимо от логического состояния связанного с проверяемым контактом логических компонентов (метод подавления логических уровней устройства -‘backdriving’). Максимальный поддерживаемый ток является достаточным для принудительной установки выхода микросхемы в нужное состояние и в тоже время не выводит ее из строя. Для того, что бы ограничить рассеиваемую мощность элемента микросхемы, время в течении которого подается воздействие ограничено.

Данный метод лежит в основе устройств  зонда-генератора и функционального  тестера микросхем.

Метод анализа вольтамперных характеристик двухполюсника является  методом аналогового внутрисхемного тестирования электронных устройств. Данный метод может использоваться одинаково хорошо для тестирования как цифровых, так и аналоговых электронных устройств. Отказы компонентов в сложных электрических цепях могут быть локализованы даже при отсутствии детальных знаний о функционировании устройства и документации на него Тестирование электронного устройства выполняется без подачи на плату напряжения питания, благодаря чему проверяемые компоненты не могут быть повреждены.

 

5 Блок пульта управления  и индикации

 

5.1 Описание блока пульта управления и индикации

 

Блок пульта управления и индикации  состоит из следующих функциональных узлов: узел определения кода клавиш пульта управления; узел индикации ПИТ; АВРИЯ; КР; узел динамической индикации (четырехразрядный дисплей); узел подачи звукового сигнала. Узел определения кода клавиши пульта управления состоит из шинного формирователя D8 и элементов формирования сигнала запроса D3, D7.3-D7.5, D2.2, D5.4.

Если ни одна из клавиш не нажата, то триггер D2.2 находится в состоянии логического «0» (в это состояние триггер переводится по включению питания по сигналу RDP4 или по нажатию клавиши СБР). Сигнал INTI при этом имеет высокий уровень (отсутствие запроса прерывания).

При нажатии одной из клавиш блока  пульта управления срабатывает триггер запроса D2.2 (INTI=0). После получения сигнала INTI=0 микропроцессор БЦУ входит в режим отработки прерывания. Через 15-20 мкс после поступления запроса INTI по сигналу RDP4 (низкий уровень) код, соответствующий нажатой клавише, через минный формирователь D8 считывает на шину данных БЦУ. По сигналу RDP4 сбрасывается триггер запроса D2.2.

Узел индикации КР, ПИТ, АВАРИЯ состоит  из триггеров D4, диодов светоизлучающих HL1-HL3, резисторов R1, R2, R9, R14-R16. Триггеры D4работают в счетном режиме и устанавливаются в «0» по сигналам АР/КР, АВР. По включению питания триггеры D4 устанавливаются в состояние логической «1» по s- входам сигналом Сброс.

Четырехразрядный индикатор состоит  из задающего генератора D1.3, C6, R10; элементов выбора режима работы индикаторов D2.1, D5.1-d5.3, D1.5; сдвигового регистра D9; ОЗУ D10; дешифратора D11; диодных ключей на VT2-VT5, R21-R36; семисегментных индикаторов HG1-HG4.

Индикатор работает в двух режимах: занесение информации и динамическая индикация.

В режим занесения информации индикатор переключается по сигналу НУИ. При это на шине А0 выставляется логическая «1» и триггер D2.1 устанавливается в состояние логической «1». Логический «0» с его инверсного выхода блокирует прохождение импульсов задающего генератора через D5.1, D5.2 на вход C1микросхемы D9. По сигналу НУИ происходит также параллельное занесение данных в регистр D9 при этом на выходе I3D9 устанавливается логический «0», а на других выходах – «1». Выходы регистра D9 подключаются к адресным входам ОЗУ (D10) и входам анодных ключей, через которые подается питание на аноды индикаторов, т.е. осуществляется выборка индикаторов. Таким образом получается соответствие ячеек ОЗУ и  разряда индикатора. Информация подается на входы ОЗУ D1-D4 с шины данных DB0-DB3 и по сигналу WRP4 записывается в ячейку 0111. Положительным перепадом WRP4 через D5.2 изменяется состояние регистра D9 (нуль сдвигается на второй выход). Происходит запись данных для второго разряда индикатора и т.д.

После записи данных во все разряды  индикатор переключается в режим динамической индикации сигналом НУИ с выставлением на шине А0 логического «0». По сигналу НУИ осуществляется установка регистра D9 в начальное состояние, триггера D2.1 – в нулевое состояние. Логическая «1» на инверсном выходе триггера разрешает прохождение импульсов с выхода задающего генератора через D5.1 на вход 04 D5.2 и так как WRP4имеет высокий уровень, то импульсы с генератора подаются на вход С1 регистра D9. По отрицательному перепаду тактовых импульсов регистр D9 изменяет свое состояние (сдвигает логический «0» на следующий выход). При этом происходит выбор определенной ячейки (с выходов ОЗУ D10 информация через дешифратор D11и гасящие резисторы R37-R43 подается на катоды семисегментных индикаторов) и через ключи подается питание на аноды соответствующего разряда индикатора. Происходит высвечивание информации, записанной в ОЗУ, на индикаторах.