Автор работы: Пользователь скрыл имя, 26 Октября 2014 в 20:37, реферат
Обычно прибором для рентгеновского структурного анализа служит дифрактометр, который включает источник излучения, гониометр, детектор и измерительно – управляющее устройство.
С помощью рентгеновского структурного анализа исследуют поликристаллические образцы и монокристаллы металлов, сплавов, минералов, жидких кристаллов, полимеров, биополимеров, различных низкомолекулярных органических и неорганических соединений.
Введение…………………………………………………………………………...3
Историческая справка…………………………………………………………….5
Методы рентгеноструктурного анализа…………………………………………7
Метод Лауэ………………………………………………………………………...8
Метод Дебая – Шеррера…………………………………………………………11
Рентгенодифратометрический метод…………………………………………12
Литература……………………………………………………………………….13