Автор работы: Пользователь скрыл имя, 10 Мая 2013 в 20:13, курсовая работа
Метод позволяет выявлять дефекты типа тонких поверхностных и неглубоко залегающих подповерхностных нарушений сплошности: воло¬совин, трещин (закалочных, усталостных, шлифовочных, сварочных, ли¬тейных), расслоений, непроваров, флокенов, закатов, надрывов и т. п.
При намагничивании детали, имеющей дефекты сплошности на поверхности, над ними возникают поля рассеяния, магнитное поле становится неоднородным. Намагничивающее поле и магнитное поле рассеяния над дефектом показано на рисунке 1.
ЗАДАНИЕ НА КУРСОВОЕ ПРОЕКТИРОВАНИЕ 2
ВВЕДЕНИЕ 4
1 ОПИСАНИЕ ОБЪЕКТА КОНТРОЛЯ 6
2 КОНТРОЛЬ ДЕФЕКТНОСТИ ИЗДЕЛИЯ 7
2.1 Технологические операции магнитопорошкового контроля 7
2.2 Подготовка объекта к контролю 7
2.3 Выбор дефектоскопического материала 8
2.4 Выбор необходимого уровня чувствительности 8
2.5 Выбор способа контроля 9
2.6 Намагничивание объекта контроля 10
2.7 Нанесение дефектоскопического материала на объект 14
2.8 Осмотр поверхности изделия 14
2.9 Разбраковка и оформление результатов контроля 15
2.10 Размагничивание 15
ЗАКЛЮЧЕНИЕ 17
СПИСОК ИСПОЛЬЗОВАННЫХ ИСТОЧНИКОВ 18