Сканирующая туннельная зондовая микроскопия

Сканирующий Зондовый Микроскоп (СЗМ) - это прибор, дающий возможность исследования свойств поверхностей материалов от микронного до атомарного уровня. В СЗМ существует три способа исследования поверхностей:
Сканирующая туннельная микроскопия (СТМ)
Сканирующая силовая микроскопия (ССМ)
Близкопольная сканирующая микроскопия (БСМ).

1.ВВЕДЕНИЕ. 2
2.ОСНОВНАЯ ЧАСТЬ. 2
2.1 Что такое сканирующая зондовая микроскопия. 2
2.2 Современные методы исследований СЗМ. 5
2.2.1 Методики СТМ. 5
2.2.1.1 Объекты исследования. 6
2.2.1.2 Режимы работы СТМ. 7
Режим топографии (I=сопst). 7
Режим регистрации тока (Z=const). 7
Режим ошибки обратной связи (FВ-еrrоr). 8
2.2.2 Методики ССМ . 8
2.2.2.1 Контактный режим. 9
Силы, действующие между кантилевером и образцом 10
2.2.2.2 Топография поверхности (режим постоянной 11
силы)
2.2.2.3 Режим снятия изображения сил. 15
2.2.2.4 Режим регистрации ошибки обратной связи. 16
2.2.2.5 Измерение боковых сил. 16
2.2.3 Вибрационные и модуляционные методы
измерений. 17
2.2.3.1 СТМ-методы. 18
Режим измерения локальной высоты барьера. 18
Режим спектроскопии. 20
2.2.3.2 АСМ-методы: 20
Бесконтактный режим. 20
Полуконтактный режим. 22
Режим измерения жесткости. 23
2.2.4 Схема взаимодействия компонентов. 24
2.2.5 Схема регистрации отклонения кантилевера. 25
3. ЗАКЛЮЧЕНИЕ. 26
4. ЛИТЕРАТУРА. 27