Автор работы: Пользователь скрыл имя, 26 Октября 2014 в 20:37, реферат
Обычно прибором для рентгеновского структурного анализа служит дифрактометр, который включает источник излучения, гониометр, детектор и измерительно – управляющее устройство.
С помощью рентгеновского структурного анализа исследуют поликристаллические образцы и монокристаллы металлов, сплавов, минералов, жидких кристаллов, полимеров, биополимеров, различных низкомолекулярных органических и неорганических соединений.
Введение…………………………………………………………………………...3
Историческая справка…………………………………………………………….5
Методы рентгеноструктурного анализа…………………………………………7
Метод Лауэ………………………………………………………………………...8
Метод Дебая – Шеррера…………………………………………………………11
Рентгенодифратометрический метод…………………………………………12
Литература……………………………………………………………………….13
Рентгенодифрактометрический метод
Рентгенодифрактометрический метод — один из методов ренгеноструктурного анализа. Основан на использовании рентгеновского дифрактометра — прибора для одновременной регистрации интенсивности и направления дифрагированных лучей. Рентгеновский дифрактометр состоит из источника рентгеновского излучения, рентгеновского гониометра, в который помещают исследуемый образец, детектора излучения и электронного измерительно-регистрирующего устройства. Детектором излучения служит счётчик квантов (ионизационная камера, пропорциональные счётчики и сцинтиляционные счётчики). На счётчик выводится последовательно каждый дифракционный луч, что достигается перемещением счётчика в процессе измерения. Рентгеновский дифрактометр позволяет измерять интенсивности дифрагированного в заданном направлении рентгеновского излучения и углы дифракции.
Литература