Система контроля параметров протонного пучка в лучевой терапии

Автор работы: Пользователь скрыл имя, 23 Октября 2012 в 12:15, дипломная работа

Краткое описание

Целью данной работы явилось создание в Медико–техническом комплексе Объединённого института ядерных исследований г. Дубна компьютеризированной системы контроля параметров протонного пучка в режиме реального времени, а также обеспечивающего её работу программного обеспечения. Основой для создания системы явились приборы:
• установленная на входе протонного пучка в процедурную кабину многопроволочная ионизационная камера, предназначенная для контроля горизонтального и вертикального профилей пучка;
• полупроводниковые диоды, как датчики ионизационных потерь энергии пучка при прохождении его через вещество;

Содержание

ВВЕДЕНИЕ…………………………………………………………………………………..…..5
ГЛАВА 1. Некоторые методы регистрации ионизирующих излучений в протонной терапии…………………………………………………………8
1.1. Использование газовых ионизационных детекторов при мониторинге пучка протонов в лучевой терапии………………..……8
1.1.1. Процессы, протекающие в ионизационной камере в результате действия излучения:
o Ионизация газа излучением……………………………………………..8
o Диффузия электронов и ионов.………………………….…………..10
o Рекомбинация ионов…………………………………………………..….11
o Движение носителей заряда при наличии внешнего электрического поля………………………………………………………13
1.1.2. Плоские ионизационные камеры в токовом режиме………..14
1.1.3. Измерение тока, проходящего через камеру в токовом режиме, по потенциалу на внешнем резисторе…………………....17
1.1.4. Многопроволочные ионизационные камеры…………….…..…19
1.1.5. Системы контроля пучка, используемые в различных центрах протонной лучевой терапии:
o Автоматическая контрольно–регулирующая система с двойной обратной связью………………..………………………………20
o Трёхмерный детектор на основе стриповой плоскопараллельной ионизационной камеры………………..……22
o Метод графических плёнок………………..…………………………..23
1.2. Полупроводниковые детекторы для регистрации ионизирующего излучения………………..…………………………………25
1.2.1. Электропроводность в полупроводнике………………..…………25
1.2.2. Возможность измерения интенсивности излучения и ионизационных потерь энергии при помощи полупроводниковых приборов………………..…………………………..27
1.2.3. Процесс образования свободных носителей в полупроводнике под действием ионизирующего излучения…..28
1.2.4. Рекомбинационные явления в объёме полупроводникового прибора………………..………………………………………………………….29
1.3. Интегрирование сигнала с целью измерения заряда, образованного ионизирующим излучением………………..………….30
ГЛАВА 2. Система контроля профиля пучка и изменения кривой глубинного дозового распределения………………..…………….32
2.1. Контроль симметрии профиля протонного пучка при облучении пациентам………………..………………………………………………………..33
2.1.1. Обоснование выбора многопроволочной ионизационной камеры в качестве монитора профиля пучка протонов…………33
2.1.2. Устройство и работа используемой многопроволочной ионизационной камеры:
o Устройство ионизационной камеры, используемой в системе………………..………………………………………………………..34
o Образование сигнала на выходах камеры………………..……...35
2.2. Контроль изменения пробега протонного пучка при помощи полупроводниковых диодов………………..………………………………..36
2.2.1. Обоснование выбора полупроводникового диода для измерения линейных потерь энергии пучка протонов…………………………………………………………………………..36
2.2.2. Методика контроля изменения пробега протонного пучка по показаниям полупроводниковых диодов………………..…………….37
2.2.3. Определение толщины дополнительного замедлителя перед диодами………………..………………………………………………………….40
2.3. Аппаратная обработка сигналов с ионизационной камеры и с полупроводниковых диодов………………..………………………………..42
2.3.1. Аппаратная обработка сигналов с ионизационной камеры и с полупроводниковых диодов………………..……………………………..42
2.3.2. Использование модулей КАМАК в системе контроля протонного пучка:
o Краткое описание аппаратуры и принципа работы системы КАМАК………………..…………………………………………….43
o Использование модулей КАМАК при обработке сигналов с интегратора………………..………………………………………………...44
2.4. Компьютерная обработка показаний детекторов и их визуализация………………..……………………………………………………46
2.4.1. Структура программы, используемой в системе контроля протонного пучка………………..………………………………………………46
2.4.2. Программное управление считыванием данных с детекторов………………..……………………………………………………….48
2.4.3. Алгоритмы работы программы в различных режимах:
o Измерение фонового сигнала………………..……………………….49
o Калибровка ионизационной камеры………………..……………….50
o Калибровка чувствительности диодов………………..…………51
o Режим подбора толщины дополнительного
замедлителя………………..…………………………………………………53
o Калибровка пика Брэгга и аппроксимация его полиномом 3–ей степени………………..………………………………………………..54
o Совместная калибровка ионизационной камеры и пика Брэгга………………..………………………………………………………….57
2.2.4. Контроль параметров протонного пучка в режиме реального времени:
o Работа программы при нормальных параметрах пучка…….57
o Фиксирование перекоса профиля пучка протонов……………..59
o Вычисление изменения пробега протонного пучка……………60
2.3. Экспериментальная оценка потерь ионизационного тока на диффузию и рекомбинацию в используемой ионизационной камере.
o Метод экстраполяции показаний ионизационной камеры…63
o Определение коэффициента собирания заряда………………64
ЗАКЛЮЧЕНИЕ………………………………………………………………………….…….66
СПИСОК ЛИТЕРАТУРЫ………………………………………………………………………68

Вложенные файлы: 1 файл

Karpunin_DIPLOMA.doc

— 743.00 Кб (Скачать файл)

 

1.1.1 Процессы, протекающие в ионизационной камере в результате действия излучения.

Ионизация газа излучением. При прохождении заряженных частиц в газах в результате ионизации образуются электроны и ионы. Если ионизация происходит в объёме между двумя электродами с различными потенциалами, то в результате движения электронов и ионов к соответствующим электродам в электрической цепи возникнет ток.

Все газовые ионизационные  детекторы представляют собой по сути дела конденсаторы, в которых пространство между электродами заполнено каким-либо газом. Пусть, мы имеем плоский конденсатор, между пластинами которого создана некоторая разность потенциалов. В отсутствии измеряемой радиации воздух или другой какой-нибудь газ, заполняющий пространство между электродами, является изолятором. Под действием ионизирующей частицы в газе образуются ионы, которые начинают двигаться в электрическом поле конденсатора. Электрический ток, возникающий в результате ионизации, даётся выражением [4]

,      (1.1)

где – число образовавшихся ионов, – электрический заряд каждого иона, а – время, необходимое для сбора ионов на электродах.

  Величина тока детектора зависит  от интенсивности попадающего в конденсатор излучения и от приложенного к электродам напряжения. Ток, создаваемый пучком протонов с характерными для лучевой терапии параметрами (150 МэВ, мощность дозы 1–2 Гр/мин), составляет доли микроампера, а падение напряжения на нагрузочном сопротивлении измеряется милливольтами.

Полные потери энергии частицы при прохождении  ее через камеру даются формулой

  ,      (1.2)

где – число образованных ионов, – средняя энергия, необходимая для образования одной пары ионов. Величина для обычных газов составляет около 30 эВ. Образование ионных пар – случайный процесс, а поэтому возможны флуктуации числа порядка [5]. Все измеренные величины, основанные на показаниях счетчика, тоже будут обнаруживать флуктуации, и поэтому точность таких измерений повышается с увеличением их длительности.

Для точного измерения параметров налетающих частиц по созданному ионизационному эффекту необходимо, чтобы все образовавшиеся электроны и ионы достигли электродов камеры (конденсатора). Это не всегда возможно, поскольку носители заряда помимо движения вдоль силовых линий электрического поля находятся в непрерывном беспорядочном тепловом движении, что мешает всем носителям собраться на соответствующем электроде. Кроме того, при соударениях электронов с молекулами образуются электроотрицательные ионы, происходит рекомбинация, ионизация ударом.

Все эти явления  – и диффузия, и рекомбинация, и образование электроотрицательных ионов – меняют значение среднего тока или импульса с ионизационной камеры. Это видно из вольт-амперной характеристики камеры, облучаемой заряженными частицами (рис. 1.1) [6]. В области 1 электрическое поле, создаваемое внешним источником с напряжением U0, ещё недостаточно, чтобы все электроны и ионы попадали на собирающие электроды, а в области 2 (область работы ионизационных камер) оно достаточно, чтобы эффекты от рекомбинации и диффузии были пренебрежимо малы, и практически все частицы достигали электродов. При дальнейшем увеличении напряжения электроны могут приобретать энергию, достаточную для вторичной ионизации, что приводит к увеличению тока (область 3).

Относительная протяжённость  плато вольт-амперной характеристики существенно зависит от газа, наполняющего камеру, давления, температуры, плотности ионизации. При увеличении давления и плотности ионизации длина плато уменьшается. Верхняя граница плато определяется такими значениями напряжённости электрического поля в камере, при которых электроны могут приобрести на пути между двумя соударениями энергию, достаточную для ионизации молекул газа. Чем больше длина свободного пробега электрона и чем ниже потенциал ионизации, тем раньше наступает вторичная ионизация. Нижняя граница плато зависит от того, насколько велико значение процессов диффузии и рекомбинации.

 

Диффузия электронов и ионов. Если в каком-нибудь направлении в камере концентрация ионов (или электронов) изменяется, то вдоль него будет происходить диффузия ионов (или электронов) в сторону меньшей концентрации частиц данного вида и в отсутствии внешнего электрического поля. При этом изменение числа частиц  данного вида в единице объёма во времени пропорционально скорости изменения плотности этих же частиц в заданном направлении:

                          .        (1.3)

Коэффициент пропорциональности называется коэффициентом диффузии. Его величина зависит от знака заряда ионов и от природы газа, в котором образуются ионы. Она связана со средней длиной свободного пробега частиц между соударениями l и средней скоростью между соударениями u. Если предположить, что l не зависит от u  и что при соударениях имеется равновероятное распределение частиц по углам после рассеяния, то выражение для коэффициента диффузии имеет вид [7]:

,

или , если ввести ,      (1.4)

где - средняя длина свободного пробега при единичном давлении;    p - давление.

  Коэффициенты диффузии для тяжёлых положительных и отрицательных ионов можно считать независимыми от внешнего электрического поля. Это связано с тем, что при небольших значениях напряжённости электрического поля энергии ионов мало отличаются от энергии нейтральных молекул, поскольку при соударениях ионов с молекулами газа происходит интенсивный обмен энергией (упругие соударения частиц с равными массами). Поэтому величины , u и изменяются слабо при изменениях напряжённости электрического поля.

Электроны, наоборот, вследствие их малой массы в результате упругого соударения с атомами теряют малую долю своей энергии. Следовательно, средняя скорость движения электронов связана с напряжённостью электрического поля, а   зависит от скорости.

Для положительных  и отрицательных ионов коэффициенты диффузии различаются незначительно. Для воздуха при температуре 15°С и при нормальном давлении они равны 0,032 см2/с [7]. Рост температуры увеличивает среднюю скорость u, и коэффициент повышается. С уменьшением давления возрастает l, что также приводит к увеличению . Для электронов значительно больше зависит от отношения напряжённости электрического поля к давлению, причём степень зависимости различна для разных газов.

Выражения для  оценки потерь ионизационного тока в  результате диффузии будут приведены  ниже (см. п. 1.1.2).

 

Рекомбинация  ионов играет более существенную роль в формировании тока в ионизационной камере. Вследствие её часть создаваемых в газе ионов нейтрализуется и не участвует в создании электрического тока. Число рекомбинирующих ионов в большой степени зависит от пространственного распределения их между электродами камеры и от характера имеющегося в ней поля. Однако независимо от этого во всех случаях по мере увеличения поля это число будет уменьшаться, обусловливая тем самым нарастание тока на участке 1 рис. 1.2. Это объясняется тем, что при нарастании поля увеличивается скорость перемещения ионов, и тем самым уменьшается число столкновений ионов, а, следовательно, и число актов рекомбинации. Таким образом, чем больше скорость, тем меньше вероятность рекомбинации. По этой причине процесс рекомбинации электронов с положительными ионами менее вероятен, чем ион-ионная рекомбинация.

Скорость рекомбинации в заданных условиях зависит от плотности  зарядов обоих знаков. Если число  актов рекомбинации, происходящих в  единице объёма, обозначить , то в общем случае для него можно записать следующее соотношение [7]:

,     (1.5)

где - коэффициент рекомбинации, см3/с; n, n+- плотность зарядов в единице объёма. При атмосферном давлении в воздухе коэффициент ион–ионной рекомбинации составляет »2,4´10–6 см3/с [7]. Для электрон-ионной рекомбинации он составляет приблизительно            10–10 см3/с [7]. Следует отметить, что коэффициент рекомбинации зависит от вида газа и средней энергии ионов и электронов.

В виду большей вероятности рекомбинации ионов, чем электронов, в ионизационных  камерах рекомбинация приобретает  существенное значение, если в газе большая вероятность образования  электроотрицательных ионов. Тогда рекомбинация происходит в два этапа: образование электроотрицательного иона и затем рекомбинация его с положительным ионом, образованным при ионизации газа. Электроотрицательный ион стабилен, если его энергия в основном состоянии меньше энергии основного состояния соответствующего нейтрального атома, или другими словами, энергия связи добавочного электрона должна быть положительной. Энергия связи добавочного электрона определяется эффективным кулоновским полем ядра и электронов оболочки, которое убывает с расстоянием значительно быстрее, чем кулоновское поле точечного заряда. Добавочный электрон по принципу Паули может занимать лишь вакантные энергетические состояния. Поэтому атомы с незаполненными внешними оболочками, у которых поле ядра не экранировано полностью внешними электронами, могут образовывать электроотрицательные ионы. Образование электроотрицательных ионов у атомов с заполненными внешними оболочками маловероятно, т. к. в этом случае поле ядра надёжно экранировано электронной оболочкой атома.

 

 

Движение носителей  заряда при наличии внешнего электрического поля. В отсутствии электрического поля движение электронов и ионов, образованных в результате ионизации в объёме камеры полностью определяется диффузией и рекомбинацией. В электрическом поле e на заряд e действует сила

F=ee .          (1.6)

Под действием этой силы происходит движение заряженных частиц в направлении  соответствующих электродов, причем в процессе такого движения заряженные частицы приобретают от поля энергию, равную

W = exe,       (1.7)

где x – путь, пройденный частицей в направлении поля. Скорость движения электронов вдоль поля почти на три порядка больше скорости движения ионов за счет разности их масс.

Такое движение зарядов создаёт в камере и во внешней измерительной цепи ток, плотность которого равна

j=j++j–      (1.8)

где j+, j – компоненты, обусловленные движением положительных и отрицательных ионов соответственно. Рекомбинация ионов и их диффузия уменьшают j+ и j. Если диффузией и рекомбинацией пренебречь, то плотность тока можно выразить через скорости дрейфа зарядов:

j+=n+ew+;    j=new,                             (1.9)

где n+, n - соответственно плотности ионов и электронов. Скорость дрейфа как ионов, так и электронов зависит от отношения e/p , где p – давление газа. При e/p>15 В/(см×гПа), т.е. в диапазоне, в котором работают ионизационные камеры, дрейфовая скорость w~ [7]. При этом скорость дрейфа электронов существенно выше скорости дрейфа ионов.

1.1.2 Плоские ионизационные камеры в токовом режиме.

Даже  в отсутствии измеряемой радиации в  газе кроме нейтральных молекул  или атомов, может присутствовать какое-то число свободных электронов и ионов разного знака. Считается, что в воздухе фоновая концентрация заряженных частиц составляет примерно 103 см-3 [8]. Поэтому при включении камеры в измерительную сеть может возникнуть темновой ток порядка 10-17А. Помимо этого тока в камерах всегда присутствует ток утечки, определяемый приложенным к камере напряжением и сопротивлением изоляторов. Удельное сопротивление многих изоляторов достаточно велико, чтобы токи утечки были невелики в сравнении с темновым током. Однако поверхностное сопротивление изоляторов заметно меньше. Оно зависит от качества обработки поверхностей, условий работы.

В измерительную  цепь ионизационные камеры могут  включаться в двух основных режимах: токовом и импульсном. Включение  камеры в импульсном режиме работы позволяет измерить заряд или  ток, который обусловлен движением зарядов в камере, созданных отдельной ионизирующей частицей или достаточно коротким импульсом пучка частиц.

Работа ионизационной  камеры в токовом режиме позволяет  снимать сигнал (заряд или напряжение), накопленный в течение некоторого времени при прохождении через неё пучка частиц. При этом снижается скорость измерения, но повышается чувствительность за счёт усреднения различных токовых наводок в камере. Поэтому токовый режим обычно используют для мониторирования интенсивности излучения.

Включение плоской ионизационной камеры в измерительную цепь в токовом режиме показано на рис. 1.2. На электроды камеры подаётся напряжение U0. В случае постоянной во времени ионизации плотность тока, текущего в камере, можно выразить по формуле (1.8) через две компоненты, образуемые дрейфом положительных и отрицательных зарядов. Если площадь рабочего объёма камеры s, то ток I в камере:

.    (1.10)

Из (1.9) видно, что чтобы найти j+ и j, необходимо определить n+ и n. Для этого рассмотрим баланс числа частиц в слое Dx. В этом слое рождается n0Dx пар ионов, где n0 – число пар ионов, рождающихся в единице объёма в единицу времени. Число входящих частиц в рассматриваемый объём в единицу времени n(x)w, а число выходящих – n(x+Dx)w. В силу установившегося равновесия

n0Dx= n(x)w – n(x+Dx)w

или

n0= wdn/dx.     (1.11)

Если  считать, что направление оси x совпадает с направлением силовых линий электрического поля, а точка x=0 совпадает с положительным электродом, то при расстоянии между электродами d граничные условия для плотности положительных и отрицательных ионов будут следующие: n+(0)=0 и n(d)=0. Используя их при интегрировании (1.11), получим

Информация о работе Система контроля параметров протонного пучка в лучевой терапии