Автор работы: Пользователь скрыл имя, 23 Октября 2012 в 12:15, дипломная работа
Целью данной работы явилось создание в Медико–техническом комплексе Объединённого института ядерных исследований г. Дубна компьютеризированной системы контроля параметров протонного пучка в режиме реального времени, а также обеспечивающего её работу программного обеспечения. Основой для создания системы явились приборы:
• установленная на входе протонного пучка в процедурную кабину многопроволочная ионизационная камера, предназначенная для контроля горизонтального и вертикального профилей пучка;
• полупроводниковые диоды, как датчики ионизационных потерь энергии пучка при прохождении его через вещество;
ВВЕДЕНИЕ…………………………………………………………………………………..…..5
ГЛАВА 1. Некоторые методы регистрации ионизирующих излучений в протонной терапии…………………………………………………………8
1.1. Использование газовых ионизационных детекторов при мониторинге пучка протонов в лучевой терапии………………..……8
1.1.1. Процессы, протекающие в ионизационной камере в результате действия излучения:
o Ионизация газа излучением……………………………………………..8
o Диффузия электронов и ионов.………………………….…………..10
o Рекомбинация ионов…………………………………………………..….11
o Движение носителей заряда при наличии внешнего электрического поля………………………………………………………13
1.1.2. Плоские ионизационные камеры в токовом режиме………..14
1.1.3. Измерение тока, проходящего через камеру в токовом режиме, по потенциалу на внешнем резисторе…………………....17
1.1.4. Многопроволочные ионизационные камеры…………….…..…19
1.1.5. Системы контроля пучка, используемые в различных центрах протонной лучевой терапии:
o Автоматическая контрольно–регулирующая система с двойной обратной связью………………..………………………………20
o Трёхмерный детектор на основе стриповой плоскопараллельной ионизационной камеры………………..……22
o Метод графических плёнок………………..…………………………..23
1.2. Полупроводниковые детекторы для регистрации ионизирующего излучения………………..…………………………………25
1.2.1. Электропроводность в полупроводнике………………..…………25
1.2.2. Возможность измерения интенсивности излучения и ионизационных потерь энергии при помощи полупроводниковых приборов………………..…………………………..27
1.2.3. Процесс образования свободных носителей в полупроводнике под действием ионизирующего излучения…..28
1.2.4. Рекомбинационные явления в объёме полупроводникового прибора………………..………………………………………………………….29
1.3. Интегрирование сигнала с целью измерения заряда, образованного ионизирующим излучением………………..………….30
ГЛАВА 2. Система контроля профиля пучка и изменения кривой глубинного дозового распределения………………..…………….32
2.1. Контроль симметрии профиля протонного пучка при облучении пациентам………………..………………………………………………………..33
2.1.1. Обоснование выбора многопроволочной ионизационной камеры в качестве монитора профиля пучка протонов…………33
2.1.2. Устройство и работа используемой многопроволочной ионизационной камеры:
o Устройство ионизационной камеры, используемой в системе………………..………………………………………………………..34
o Образование сигнала на выходах камеры………………..……...35
2.2. Контроль изменения пробега протонного пучка при помощи полупроводниковых диодов………………..………………………………..36
2.2.1. Обоснование выбора полупроводникового диода для измерения линейных потерь энергии пучка протонов…………………………………………………………………………..36
2.2.2. Методика контроля изменения пробега протонного пучка по показаниям полупроводниковых диодов………………..…………….37
2.2.3. Определение толщины дополнительного замедлителя перед диодами………………..………………………………………………………….40
2.3. Аппаратная обработка сигналов с ионизационной камеры и с полупроводниковых диодов………………..………………………………..42
2.3.1. Аппаратная обработка сигналов с ионизационной камеры и с полупроводниковых диодов………………..……………………………..42
2.3.2. Использование модулей КАМАК в системе контроля протонного пучка:
o Краткое описание аппаратуры и принципа работы системы КАМАК………………..…………………………………………….43
o Использование модулей КАМАК при обработке сигналов с интегратора………………..………………………………………………...44
2.4. Компьютерная обработка показаний детекторов и их визуализация………………..……………………………………………………46
2.4.1. Структура программы, используемой в системе контроля протонного пучка………………..………………………………………………46
2.4.2. Программное управление считыванием данных с детекторов………………..……………………………………………………….48
2.4.3. Алгоритмы работы программы в различных режимах:
o Измерение фонового сигнала………………..……………………….49
o Калибровка ионизационной камеры………………..……………….50
o Калибровка чувствительности диодов………………..…………51
o Режим подбора толщины дополнительного
замедлителя………………..…………………………………………………53
o Калибровка пика Брэгга и аппроксимация его полиномом 3–ей степени………………..………………………………………………..54
o Совместная калибровка ионизационной камеры и пика Брэгга………………..………………………………………………………….57
2.2.4. Контроль параметров протонного пучка в режиме реального времени:
o Работа программы при нормальных параметрах пучка…….57
o Фиксирование перекоса профиля пучка протонов……………..59
o Вычисление изменения пробега протонного пучка……………60
2.3. Экспериментальная оценка потерь ионизационного тока на диффузию и рекомбинацию в используемой ионизационной камере.
o Метод экстраполяции показаний ионизационной камеры…63
o Определение коэффициента собирания заряда………………64
ЗАКЛЮЧЕНИЕ………………………………………………………………………….…….66
СПИСОК ЛИТЕРАТУРЫ………………………………………………………………………68
n+(x)=n0x/w+; n–(x)=n0(d – x)/w–. (1.12)
Подставляя (1.12) в (1.10), получим выражение для тока в камере при пренебрежении потерями зарядов в результате диффузии и рекомбинации:
I = en0sd. (1.13)
С учётом диффузии плотность тока положительных ионов в плоской камере [7]:
j+ = en+w+ – D+e dn+/dx, (1.14)
где D+ – коэффициент диффузии. Для отрицательных ионов выражение аналогично (1.14). Как следует из (1.12), градиент плотности зарядов существует в камере даже в том случае, когда скорость образования ионов постоянна во всём объёме, причём он имеет место лишь в направлении электрического поля, т.е. вдоль оси x. Градиент плотности ионов вызывает диффузионный ток, направление которого противоположно направлению тока, обусловленного дрейфом ионов. Таким образом, наличие диффузии приводит к уменьшению измеряемого тока.
Подставляя в (1.14) выражения (1.11) и (1.12), получим для компонент плотности ионизационного тока:
j+ = en0 x – D+e n0/w+;
(1.15)
j– = en0 (d – x) – D–e n0/w–.
Следовательно, с учётом диффузии ионизационный ток в камере определяется выражением
I = en0sd – es(D+ n0/w+ + D– n0/w–). (1.16)
Первая часть этого выражения даёт нам ток без потерь на диффузию. Вторая часть определяет уменьшение ионизационного тока из-за диффузии. Поэтому их отношение даёт относительные потери тока на диффузию:
–(DI/I)dif = D+/w+d + D–/w–d . (1.17)
Обычно потери тока на диффузию заметны лишь при напряжениях, меньших нескольких вольт [7]. Даже при подаваемом на электроды камеры напряжении около 100 В относительные потери (DI/I)dif составляют всего лишь несколько процентов.
Потери ионизационного тока на рекомбинацию, как уже отмечалось выше, более существенны. При этом имеет смысл рассматривать только рекомбинацию положительных и отрицательных ионов, так как вероятность их намного больше, чем вероятность рекомбинации положительных ионов и электронов. Поэтому для оценки относительных потерь тока на рекомбинацию положим, что плотность электроотрицательных ионов равна hn–(x), где h – их доля в плотности отрицательных зарядов (h<1). Тогда, используя (1.5), для тока в камере с учётом потерь на рекомбинацию можно записать
I = en0sd – esh an+(x)n–(x)dx. (1.18)
Подставляя в (1.18) выражения для плотности положительных и отрицательных зарядов (1.12), получаем
I = en0sd – (aeshn02)/(w+w–)
или в конечном итоге
I = en0sd – (aeshn02d3)/(6w+w–). (1.19)
Тогда для относительных потерь ионизационного тока на рекомбинацию получаем выражение:
–(DI/I)rec = (ahn0d2)/(6w+w–). (1.20)
Как видно, потери тока на рекомбинацию сильно зависят от размеров ионизационной камеры и от того, какова доля электроотрицательных ионов среди отрицательных зарядов. Уже при уменьшении расстояния между электродами вдвое потери на рекомбинацию уменьшаются в четыре раза. В п. 1.1.1 было упомянуто, при отношении e/p>15 В/(см×гПа), при котором работают ионизационные камеры, скорость дрейфа носителей пропорциональна корню квадратному из e. Напряжённость e в плоскопараллельной камере пропорционально квадрату напряжения, подаваемого на электроды. Следовательно, потери тока на рекомбинацию обратно пропорциональны напряжению на электродах.
1.1.3 Измерение тока, проходящего через камеру в токовом режиме, по потенциалу на внешнем резисторе.
При включении в измерительную сеть резистора R (рис. 1.2) в ней начинает течь ток, равный ионизационному току в камере, если не учитывать переходное сопротивление между газом и электродами камеры [10,11]. Поэтому ионизационный ток, а, значит, и интенсивность излучения, можно измерить по падению напряжения на этом резисторе. Если интенсивность ионизирующего излучения изменяется, то и ток в камере, и напряжение на резисторе будут меняться. Однако изменения последнего будут происходить с запозданием, время которого определяется постоянной времени RC, где С – суммарная ёмкость камеры и измерительного прибора.
Пусть нам известна зависимость i(t) тока в камере от времени. Найдём вид зависимости напряжения на резисторе. Уравнение Кирхгофа, связывающее изменение напряжения V(t) с мгновенным значением тока i(t) имеет вид:
V(t) + RCdV(t)/dt = Ri(t). (1.21)
Решим это уравнение методом вариации произвольной постоянной. Однородное уравнение имеет вид
V(t) + RCdV(t)/dt = 0. (1.22)
Это однородное уравнение решается методом разделения переменных. Его решение
V(t) = A exp(-t/RC), (1.23)
где A – произвольная постоянная. Так как исходное уравнение (1.21) – неоднородное, то A=A(t). Найдём A. Подставляя (1.23) в (1.21) и учитывая, что A=A(t), получаем уравнение для A.
dA(t)/dt = (1/C) i(t) exp(-t/RC),
откуда A(t) = (1/C) i(t')exp(-t'/RC)dt'. (1.24)
Подставляя (1.24) в (1.23), получаем зависимость напряжения на резисторе от времени при известном i(t) и V(0)=0:
V(t)= (1/C)exp(-t/RC) i(t')exp(-t'/RC)dt'. (1.25)
Рассмотрим
случай, когда интенсивность облучения
камеры нарастает линейно в интервале
V(t)= (1/Ct1) I0 exp(-t/RC)
Беря интеграл по частям, получим
V(t)=I0Rt/t1 – (1/t1)I0R2C(1 – exp(-t/RC)) при 0£ t£ t1 (1.26)
Если бы i(t) мгновенно спадало до нуля в момент t=t1, то при t³ t1 ёмкость C стала бы разряжаться и изменение сигнала V(t) имело бы вид
V(t) = V(t1) exp(-(t – t1)/RC) (1.27)
Поэтому при t³ t1 с учётом (1.27) V(t) будет выражаться следующим соотношением:
V(t) = V(t1) exp(-(t – t1)/RC) + I0R(1 – exp(-(t – t1)/RC)). (1.28)
Соотношения (1.26) показывают, что измеряемое напряжение в меньшей степени подвержено флуктуациям, чем вызывающие их флуктуации тока в ионизационной камере. При измерениях с помощью камер интенсивности излучения по ионизационному току (или напряжению на выходном резисторе) мгновенные значения показаний приборов испытывают флуктуации даже в тех случаях, когда средняя интенсивность излучения остаётся постоянной. Флуктуации выходного сигнала обусловлены статистическими флуктуациями числа зарядов, образующихся в камере, а также флуктуациями, связанными с процессами зарядки–разрядки выходного конденсатора.
Для повышения точности измерений необходимо выбирать достаточно большие значения постоянной времени RC. Но есть и другая возможность увеличить точность измерений – это усреднение показаний приборов во времени. Однако в этом случае усреднение необходимо производить по временному интервалу, превышающему в несколько раз постоянную времени RC, так как показания приборов внутри временного интервала RC сильно коррелированы.
1.1.4 Многопроволочные ионизационные камеры.
Для наблюдения за распределением интенсивности пучка частиц (например, протонов) по его поперечному сечению, т. е. для наблюдения за профилем пучка, часто используются многопроволочные ионизационные камеры [12]. Принцип действия подобных приборов такой же, как и у плоских ионизационных камер. Отличие состоит в том, что анод в них представляет собой систему натянутых с определённым шагом параллельно друг другу проволочек, которые подсоединены к виртуальной "земле" через измерительный прибор. Все электроны образованные одной частицей, за исключением потерянных из-за диффузии и рекомбинации, собираются на ближайшей к ним, а, следовательно, и к треку частицы проволочке. Таким образом, измеряя накопленный в результате действия многих частиц заряд отдельно с каждой проволочки, можно восстановить профиль пучка в направлении, перпендикулярном проволочкам. Обычно требуется восстановление профиля пучка в двух взаимно ортогональных направлениях, перпендикулярных оси пучка: в вертикальном (X) и горизонтальном (Y). Поэтому многопроволочные ионизационные камеры включают в себя две группы анодных проволочек. Эти группы ориентированы перпендикулярно друг другу и разделены ещё одним катодным электродом. Более подробно конструкция многопроволочных ионизационных камер будет рассмотрена во 2-ой главе на примере камеры, используемой в Медико-техническом комплексе Объединённого института ядерных исследований (МТК ОИЯИ) г. Дубна для контроля протонного пучка в режиме реального времени во время облучения пациентов.
Вычисления для оценки рекомбинации и диффузии, а также формы сигнала с камеры, приведённые выше, в первом приближении справедливы и для многопроволочных ионизационных камер, если каждую проволочку рассматривать, как отдельный электрод.
1.1.5 Системы контроля пучка, используемые в различных центрах протонной лучевой терапии.
Автоматическая контрольно-регулирующая система с двойной обратной связью. Cистема формирования пучка протонов, созданная в Национальном ускорительном центре ЮАР [13,14], крайне чувствительна к его положению в пространстве. Поэтому необходимо было установить автоматизированную контрольно-регулирующую систему. Положение пучка управляется двумя компьютеризированными системами, воздействующими на две пары корректирующих магнитов.
Первая система обратной связи использует многопроволочную ионизационную камеру с 2мм разрешением, описанную выше, которая мониторирует положение пучка протонов в X и Y направлениях, перпендикулярных пучку. При этом камера устанавливается очень точно в пространстве таким образом, чтобы центральные проволочки в обеих плоскостях располагались на оси пучка. Информация с камеры служит в качестве обратной связи для управления корректирующими магнитами, расположенными на выходе пучка из вакуумного окна ускорителя. Этой системой осуществляется наведение пучка на имеющиеся рассеиватели, предназначенные для расширения пучка в поперечном направлении.
Для контроля симметрии пучка в области облучения пациента используется вторая система управления. В этой системе в качестве обратной связи используются сигналы 4-сегментной (квадрантной) камеры, которая располагается вблизи пациента перед ним. Она представляет собой плоскую ионизационную камеру, анод которой разделён на четыре одинаковых сегмента (квадранта). Тем самым она позволяет измерять центр тяжести пучка в двух направлениях: право-лево и верх-низ. Информация о положении пучка с квадрантной камеры используется для настройки следующего комплекта XY-корректирующих магнитов. Такая двойная система обеспечивает очень стабильный и симметричный пучок уже через пять секунд после его включения.
Помимо автоматической
системы контроля профиля
Ионизационные токи, снимаемые с каждой из 12 камер, дают 12 точек, характеризующих кривую глубинного дозового распределения (кривую Брэгга), когда наносятся на график как функция предшествующей толщины замедляющего материала. Толщины латунных пластин выбирались так, чтобы получить насколько возможно большее количество точек в области пика Брэгга. По полученному графику получают значение пробега, которое затем калибруется по пробегу в воде.
К плюсам такого способа контроля изменения средней энергии пучка протонов (или смещения пика Брэгга) "on-line" относится тот факт, что "ореольная" часть полностью поглощается монитором. Т.е. данная ионизационная камера служит и как коллиматор пучка. Таким образом, в Национальном ускорительном центре ЮАР создана автоматизированная система управления, которая обеспечивает стабильный пучок во время облучения пациента, а также контроль за изменением средней энергии пучка.
Трёхмерный детектор на основе стриповой плоскопараллельной ионизационной камеры. В Итальянском национальном институте ядерной физики для контроля параметров пучка тяжёлых заряженных частиц был разработан трёхмерный детектор [16], который состоит из набора располагающихся друг за другом плоскопараллельных ионизационных камер, каждая из которых отделена друг от друга слоями тканеэквивалентного замедлителя (рис.1.4).
По мере прохождения через каждый слой замедлителя, энергия протонов уменьшается на определённую величину. При этом толщина и положение замедлителя подобраны так, чтобы, снимая данные с каждой камеры, можно было измерить трёхмерное распределение относительной поглощённой дозы по мере прохождения пучка через тканеэквивалентное вещество.
Кроме того, анод каждой камеры разделён на прямолинейные вертикально или горизонтально расположенные полоски (стрипы). С каждого сегмента анода данные снимаются по отдельной линии, что очень схоже с конструкцией многопроволочной ионизационной камеры. Отличие состоит лишь в том, что анод имеет твёрдую основу из фольгированного стеклотекстолита, отделяющую рабочий объём камеры от внешней среды, поэтому не требуется ещё одного катода, как в случае с проволочной камерой. Каждая камера, как и многопроволочная, имеет по два анода, перпендикулярно ориентированные друг относительно друга и расположенные по разные стороны от катода на расстоянии 3мм от него. Это уменьшает размеры отдельной камеры, что позволяет довольно компактно расположить их в одном детекторе.
Для уменьшения эффекта рекомбинации, каждая камера детектора наполняется инертным газом. Использование инертного газа сводит к минимуму, как отмечалось выше, образование электроотрицательных ионов.
Информация о работе Система контроля параметров протонного пучка в лучевой терапии